钯水回收,薄膜的氢化传输系数的定量评估

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显现出显示 原位测量电阻率测量MG2 在薄膜中形成的动力学。[对氢化物形成动力学中的抛物线过渡进行线性。MGH中的H扩散系数在不同温度下2 表明Ar铑enius行为。?低活化能量和纳米结晶性表明晶界扩散机制。钯水回收 Mg / 钯的金属间相,但不防止进一步的氢负载。由于增加能源需求,对储氢的兴趣是大幅的。钯水回收 镁是最具吸引力的系统之一,但也发展实际应用程序仍然具有挑战性。通过X射线衍射,电子显微镜和原位测量的电阻率测量,我们在技术相关的压力20巴)处,确定MG2 的氢气中的氢气扩散系数。 钯涂层薄膜明确的厚度使得能够进行氢化率的定量评估。由此,我们检测抛物线动力学过渡的线性,并获得MGH中的氢气扩散系数 2 。钯水回收
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不同温度RT-300℃)的测量证明了具有活化能的Ar铑enius行为 EAA= 28.1kJ摩尔 -1 。氢化时,这种低值和转化为纳米晶体微观结构表示晶界扩散作为这个主题机制。完成后,研究了界面钯 / MG。 Mg5 和Mg6钯形式在脱氢所需的升高温度下。这些阶段影响,但不防止,进一步的氢负载。 Im银e 1,: [ ] 钯铂铑回收诚信检测。
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